一、近場遠場劃分

感應場區(qū)這個區(qū)域緊臨著天線，處于0＜r＜λ/2π這個區(qū)域之間，其中λ為天線的波長。超出感應場的范圍即為福射近場，這個區(qū)域的范圍在λ/2π＜r＜2D2/λ之間，式中D為天線的最大口徑，而福射場區(qū)可以分為兩個小區(qū)域，在λ/2π＜r ＜2D2/4λ之間，區(qū)域場的變化較快，在 2D2/4λ＜r＜2D2/λ之間區(qū)域場的變化較慢。 更遠區(qū)域都是天線的遠場，這個區(qū)域范圍在 r＞2D2/λ的區(qū)域內。

二、遠場測量

天線的遠場測量在室外或者室內都可以進行，遠場測量的方法大致可以分為 兩類：反射法和自由空間法。反射法需要在待測天線區(qū)域搭建一個反射平面，自由空間法根據建立的場區(qū)又可以分為三種，分別為高架場、傾斜場和緊縮場。

以下介紹幾種遠場測量方法：

 1.高架場：高架場下方要求干凈，盡量排除一切干擾，天線一般會被置于高塔或者高層建筑物上。場間距一定要滿足遠場條件 r＜2D2/λ，式中D是待測天線的最大口徑。待測天線的接收功率不能太大，這樣可以保證平均接收功率，為了排除場的反射干擾，發(fā)射天線面對塔基的方向為第一零點方向，最大化保證主瓣功率不受干擾，考慮到以上的因素，待測天線的高度不能小于4D，高架場中可以合理增加一些措施更好地減小地面反射，比如增加隔離柵，但是需要注意隔離柵不能影響到天線的主波束，并且要注意隔離柵的形狀， 最好是齒形，這樣可以減少邊緣輻射。 

2.地面反射場：地面反射場是通過地面的反射來測量出待測天線的相位和幅度分布，因此對場區(qū)的環(huán)境要求十分嚴格，場間距需要滿足遠場條件＞2D2/λ， 式中D是待測天線的最大口徑。源天線和待測天線的高度 h0和hr之間應滿足： h0? hrλ/4，另外，待測天線的高度一般需要滿足 hr＞3.3D。

 3. 斜天線測試場：斜天線測試場的待測天線被固定在一個高塔上，發(fā)射天線被固定在地面附近，與高架場類似，發(fā)射天線指向待測天線的中心，并且它的第一零瓣方向指向塔基，高塔上可以使用一些合適的措施以降低反射。與高架場相比，斜天線測試場所需求的場地相對小一些。

 4.緊縮場：天線遠程測量中，待測天線需要接收的波是均勻平面波，所以場 間距一般需要滿足r＞2D2/λ，但是，很多測試環(huán)境滿足不了這個距離，所以緊縮場測試就因為這種情況產生了，緊縮場可以在更短的距離內產生所需的均勻平面波場，緊縮場內部擁有一個大型的平面波反射器，平面波反射器可以將球面波轉化為均勻平面波，待測天線需要接近平面波反射器來接收均勻平面波。 在遠場測量中，待測天線接收到的信號包括發(fā)射天線的信號和地面與周圍物體反射的信號。地面與周圍物體反射的信號會造成測試結果如方向圖等的誤差， 還有一種誤差是基于遠場測量的定義產生的，天線的遠場方向圖的定義中需要r趨向于無窮，而實際測量中距離只是r＞2D2/λ，這個距離的差異會對遠場方向圖造成一定的影響。此外，室外測量時，外界的信號會影響發(fā)射天線的信號，對待測天線造成干擾，但是可以使用濾波器極大的削弱這種干擾。 

綜上所述，上面介紹的四種天線遠場測量方法，室內緊縮場的規(guī)模最小，可以通過很多措施減少測試的誤差，但是天線的測試精度取決于平面波反射器的精度和質量，另外，室內空間的大小限制了待測天線的尺寸。其他三種遠場測量方法的場間距都需要滿足遠場條件 r＞2D2/λ。地面反射場需要通過地面的反射場 進行測量，所以這種方法對反射面的表面精度有著很高的要求。斜天線測試場受到地面反射的誤差影響比較小，但是待測天線所處的高度需要很高，并且一定程度上限制了待測天線的尺寸。高架場適用于中型微波天線的測量，因為受到地面反射的誤差影響，所以需要使用隔離柵等措施來降低誤差的干擾。

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